CCL表面検査装置
     
   

紹 介

 

 CCL外観品質を検査し、検査結果は自動的にA,Bレベルに分けられ、人件費の節約とともに、生産量も40%に増えます。それに品質の安定さを

 保ってクレームを減らします。

 

 

システムの流れ

 

 

 

検査画面

 

 

 

応用範囲

 

 各種厚みの銅面基板、LogoありやLogo無しの基板、生産ラインで直接取り付け、インライン生産検査。

 

システム機能

 

  •  検査項目 デンツ、顆粒デンツ、擦り傷、明るい凹み、折れ、汚れ、粒銅、酸化、明るい点、油跡、指紋、符号、裁断外れなど。
     検査方式 高画質線型カメラで動態ウェブ製造プロセスを検査します
     検査速度 60m/min
     検査精度 0.05mm 以上
     検査数値 自動的に厚みや銅箔分類に調整します
     アラーム 音声や自動ラベルで警告を示します
     組み合わせ 製造プロセスコントロールシステム、または品質分析システムと組み合わせて製品の信頼度を守ります

 

システム統合

 

 Sippisは実際にオンライン品質管理を通じ、品質を確保する検査システムです。AOI表面検査データベースシステムを通じ、より早く企業

 に完備な製造プロセスコントロールと即時な品質管理を提供し、人力コストの節約とともに、品質管理の概念を実行できます。遠距離検索

 と資料のまとめにより、複数の生産ラインを統合できます。工場内部のネットワークで検査資料を共有することにより、工場内部から業務

 部まですべての検査資料を閲覧することができます。現在の結果のみならず、遠距離検索を通じで過去の検査結果も閲覧できます。

 

産業分類

 

 CCL、X/X、PS、拡散板と他の光学板表面基本産業。

 

欠陥画像

 

 

 

 

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