AOI瑕疵檢查量測機
靠AOI檢出的位置數據加上高倍率與大視野選取瑕疵後>拍照，即可完成，滑鼠滾動來放大影像，節省的人力成本，不言可喻！
一般顯微鏡
以這50um的黑點為例：人眼幾乎無法辨識位置，且精度太高，人員需要先從低倍率＞中＞高依序操作鏡頭，才能正確標記到瑕疵「費時、耗力」
Review系統
靠AOI檢出的位置數據加上高倍率與大視野選取瑕疵後>拍照，即可完成，滑鼠滾動來放大影像，節省的人力成本，不言可喻！
ReView系統配件規格
• 彩色2K萬畫素
• TOYO無塵滑軌
• LED環形光源
• 超高精度1.5um
高解析影像
實現低雜訊出色的影像品質，確保取像最小的細節，以利複雜的影像分析。
錐形匯聚
形成圓形、高亮度的照明區域涵蓋待測物，消除死角，提高視覺檢測效果。
AOI系統客製化配置
第一站(選配)
•精度20um/pixel
•彩色CCD群
第二站(選配)
•精度50um/pixel
•單色/彩色CCD群
第三站(選配)
•精度50um/pixel
•仰角/Θ角/焦距(可遠控)
AOI瑕疵不同精度比較圖
精度越高，瑕疵辨識率更佳，細節更清晰！
